Aplicaciones
Imagen y sensado
Fuentes láser para espectroscopía, inspección no destructiva y visión artificial
Muchas técnicas de medida y de inspección dependen de una fuente láser con propiedades muy concretas: una línea espectral estrecha y estable, pulsos cortos y energéticos, o un patrón de luz bien definido. Diseñamos y fabricamos esas fuentes, desde diodos estabilizados en longitud de onda hasta láseres de estado sólido pulsados, para fabricantes de instrumentación e integradores.
Espectroscopía Raman
La espectroscopía Raman identifica materiales por su huella vibracional, sin contacto y sin preparación de la muestra. La señal Raman es muy débil, así que la fuente debe tener una línea estrecha y estable, sin modos laterales ni emisión espontánea amplificada que la enmascaren [1]. La elección de la longitud de onda es un compromiso: la señal crece con la cuarta potencia de la frecuencia, pero las longitudes de onda cortas excitan más fluorescencia en muchas muestras [1].
| Longitud de onda | Uso habitual |
|---|---|
| 785 nm | Compromiso más extendido entre señal y fluorescencia; detectores de silicio |
| 830 nm | Menos fluorescencia que a 785 nm, con detectores de silicio |
| 1064 nm | Fluorescencia mínima para muestras muy fluorescentes; detectores de InGaAs |
Nuestras barras de diodo se estabilizan en longitud de onda con redes de Bragg de volumen (VBG), que estrechan la emisión y la fijan frente a variaciones de corriente y temperatura. Entregan decenas de vatios por barra en continuo, con un ancho espectral típico de ~0,2 nm, unos 3 cm⁻¹ a 785 nm.
LIBS
La espectroscopía de plasma inducido por láser (LIBS) analiza la composición elemental de sólidos, líquidos y gases. Un pulso de nanosegundos se enfoca sobre la muestra, genera un plasma y su emisión revela los elementos presentes. Es una técnica rápida, sin contacto y sin preparación de la muestra, apta para laboratorio y campo, con aplicaciones en aleaciones metálicas, minería, suelos, patrimonio, alimentación y medio ambiente [2]. La fuente más utilizada es el Nd:YAG Q-switched en régimen de nanosegundos [2].
Fabricamos láseres de Nd:YAG Q-switched de alta energía a 1064 nm, con pulsos de nanosegundos y un módulo opcional de segundo armónico a 532 nm.
Inspección no destructiva
Termografía activa. Un láser calienta localmente la pieza y una cámara infrarroja registra cómo se propaga el calor: las grietas superficiales interrumpen el flujo térmico y aparecen en la imagen. El calentamiento con una línea láser que barre la superficie permite inspeccionar áreas amplias; la detectabilidad mejora con la potencia del láser [3]. Hemos suministrado módulos de emisión en línea con geometrías a medida para equipos de termografía activa.
Ultrasonidos láser. Un pulso láser corto genera ondas ultrasónicas en la pieza por expansión térmica o ablación, y un segundo láser acoplado a un interferómetro las detecta, sin contacto y con un ancho de banda típico de 1–30 MHz [4]. Se utiliza para detectar daños, caracterizar materiales y monitorizar el curado de compuestos [4]. Nuestros láseres de Nd:YAG Q-switched de alta energía son adecuados como láser de generación. Además, centros de investigación han construido láseres de generación con nuestros módulos de ganancia, y hemos desarrollado láseres a medida basados en ellos.
Iluminación y proyección de patrones
La visión artificial, la metrología 3D por triangulación, los perfilómetros y los sistemas de alineación necesitan proyectar líneas, cruces, puntos o patrones con buena definición. Fabricamos módulos de diodo de baja potencia de 405 a 1550 nm, con emisión continua, conmutada o modulada, ópticas fijas, colimadas o enfocables, y patrones a medida con líneas de muy baja curvatura. Bajo pedido, incluyen estabilización termoeléctrica de la longitud de onda.
Nuestras fuentes
Desde diodos estabilizados con VBG y módulos de proyección de patrones hasta módulos de ganancia y láseres de Nd:YAG Q-switched, suministramos la fuente adecuada para cada técnica, como componente para integrar o como láser a medida.
Inspección de dimensiones de piezas de automoción mediante máquina de medición por escaneado láser 3D.
Referencias
1. Paschotta R. Lasers for Raman spectroscopy. RP Photonics Encyclopedia. https://www.rp-photonics.com/lasers_for_raman_spectroscopy.html
2. Shah SKH, Iqbal J, Ahmad P, et al. Laser induced breakdown spectroscopy methods and applications: a comprehensive review. Radiat Phys Chem. 2020;170:108666. doi:10.1016/j.radphyschem.2019.108666
3. Puthiyaveettil N, Thomas KR, Unnikrishnakurup S, et al. Laser line scanning thermography for surface breaking crack detection: modeling and experimental study. Infrared Phys Technol. 2020;104:103141. doi:10.1016/j.infrared.2019.103141
4. Zarei A, Pilla S. Laser ultrasonics for nondestructive testing of composite materials and structures: a review. Ultrasonics. 2024;136:107163. doi:10.1016/j.ultras.2023.107163
¿Estás desarrollando un instrumento de medida o de inspección?
Cuéntanos la técnica, la longitud de onda, la potencia o energía y el formato que necesitas, y estudiaremos contigo la configuración más adecuada. Desarrollamos soluciones a medida para fabricantes de equipos e integradores.
Parámetros técnicos
Wavelength
Power
Operation mode
Power stability
Optics
Boresight
- Integrated electronics
- Thermo-electrical wavelength stabilization on request
- High beam performance for any pattern request
- Focused spot size down to 10 µm depending on the distance
- Very low line bowing submillimeter
from 405 nm up to 1550 nm
up to 300 mW
CW / TTL switched / Modulated
< 0.5% with temperature variation
Fixed / Collimated or focusable at 20 mm distance
down to 1 mrad
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